【保障できる】 011/Ionizing Radiation Circuits and Devices MOS in Effects 電気電子工学
011/Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits,011/Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits,Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits | Wiley,Electron irradiation-induced defects for reliability,The Ionizing Radiations Effects in Electrical Parameters and
状態概ね良好ですが、
少々の傷みはご了承ください
この他にも出品しておりますので宜しければご覧ください。H13-055 半導体レーザと光集積回路 工学博士 末松安晴 編著。